非破壊粒子観察/カウンティング装置 InspectEye

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いま、ここに、ないものをいま、ここに、ないものを
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非破壊粒子観察/カウンティング装置 InspectEye

バイアル中の異物を非破壊および試料にダメージの少ない可視光領域の光で検出することを実現します。

対象の異物のサイズは50um~となり、人による目視検査の代替として使用可能です。

光源:可視光

  • サンプルにマイルドな可視光を使用した光学観察系装置
  • 異物と目的粒子を一粒子から検出
  • バイアルを回転攪拌により浮遊させて画像解析
  • Specification : 50μm~(実測では20μm検出も確認)
  • ソフトウェアで閾値設定も可
  • テレセントリック光学系レンズを採用
  • バイアル全体の画像を取得/解析が可能
  • 独自の反射光除去アルゴリズム機能を追加
  • バイアルの汚れや埃の付着などの異物とサンプルを区別
  • 異物のみを正確に検出
  • 検出した画像を1粒子単位で保存可能
  • 機械学習させる際の元データに利用
  • バイアル反射光の低減
  • 粒子の検出の妨げとなる照明の反射光をカット(図1)
  • 検出エリアの拡大および、表面に浮いている異物の検出することが可能(図2)

  • 画像の明るさムラ補正機能
    ※サンプル由来ではない部分で、画像内に明るさのムラがある(反射光による白飛びなど)と反射光付近の閾値は高く、それ以外の箇所の閾値は低くするなど、ひとつの閾値パラメータでは異物を観察するうえでの良い二値化は困難

  • InspectEye
    • ①反射光をカットする仕組み
    • ②画像内のむらを除去する独自アルゴリズム機能の実装
    • ③これらによりバイアル全体をひとつの二値化パラメータ処理が可能→効率的な粒子検出が可能

  • マシンラーニング解析
    • ①検出した異物のクラス分類
    • ②機械学習とルールベースツールを1つのビジョンシステムに統合
    • ③検出した異物が何由来のものであるかなど、ユーザー任意のクラスに学習/分類
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